软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411639936.9

申请日：

2024-11-15

公开(公告)号：

CN119149435A

公开(公告)日：

2024-12-17

发明(设计)人：

吴圣辉孙若曦

申请人：

平凯星辰（北京）科技有限公司

申请人地址：

100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园•北领地C-1楼2层207

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/34

代理机构：

北京立方知识产权代理有限公司 16272

代理人：

张筱宁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20241115
2024-12-17	公开	公开

共 50 条

[1]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘芳 ;

吕小立 ;

刘丽珍 .

中国专利 :CN110362468A ,2019-10-22

[2]

软件测试方法、软件测试系统、电子设备及存储介质 [P].

黄贵龙 ;

何志平 ;

黄志鹏 .

中国专利 :CN115328774A ,2022-11-11

[3]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨晓建 .

中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13

[4]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈松林 .

中国专利 :CN115543837B ,2025-08-01

[5]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈松林 .

中国专利 :CN115543837A ,2022-12-30

[6]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李柏桥 .

中国专利 :CN119473837A ,2025-02-18

[7]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林青青 ;

郑培龙 ;

郑才目 ;

张翠霞 .

中国专利 :CN117493208A ,2024-02-02

[8]

软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

戴婉君 ;

方晓霖 .

中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31

[9]

软件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

严东荣 .

中国专利 :CN117573544A ,2024-02-20

[10]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李懿 ;

韦晨曦 ;

李斌 ;

江旻 .

中国专利 :CN114090447A ,2022-02-25

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