软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111404702.2
申请日
2021-11-24
公开(公告)号
CN114090447A
公开(公告)日
2022-02-25
发明(设计)人
李懿 韦晨曦 李斌 江旻
申请人
申请人地址
518052 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
赵翠萍;张颖玲
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨晓建 .
中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13
[2]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837B ,2025-08-01
[3]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837A ,2022-12-30
[4]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李柏桥 .
中国专利 :CN119473837A ,2025-02-18
[5]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林青青 ;
郑培龙 ;
郑才目 ;
张翠霞 .
中国专利 :CN117493208A ,2024-02-02
[6]
软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
戴婉君 ;
方晓霖 .
中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31
[7]
软件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
严东荣 .
中国专利 :CN117573544A ,2024-02-20
[8]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘新磊 .
中国专利 :CN110134593A ,2019-08-16
[9]
软件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
祁伊祯 .
中国专利 :CN118467382A ,2024-08-09
[10]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴圣辉 ;
孙若曦 .
中国专利 :CN119149435A ,2024-12-17