软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202110813718.2

申请日：

2021-07-19

公开(公告)号：

CN115640203A

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

孙文东

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院4号楼6层006号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京开阳星知识产权代理有限公司 11710

代理人：

祝乐芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	公开	公开
2023-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210719

共 50 条

[1]

软件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苏雅如 ;

王斯杰 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656286A ,2021-11-16

[2]

书写评价软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄欣 ;

李开 ;

万鸣炜 ;

吴仕意 .

中国专利 :CN114564380A ,2022-05-31

[3]

软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

孙明刚 ;

刘涛 ;

田镇国 ;

李琦 .

中国专利 :CN120316017A ,2025-07-15

[4]

软件接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王涛 .

中国专利 :CN112506779A ,2021-03-16

[5]

软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

孙明刚 ;

刘涛 ;

田镇国 ;

李琦 .

中国专利 :CN120316017B ,2025-08-08

[6]

软件测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

白凯敏 ;

宛明晔 ;

刘淼 ;

尚朝军 .

中国专利 :CN117435464A ,2024-01-23

[7]

软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

戴婉君 ;

方晓霖 .

中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31

[8]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈燕 ;

周磊 ;

刘耀文 ;

张澳 .

中国专利 :CN120276969A ,2025-07-08

[9]

软件测试方法、软件测试系统、电子设备及存储介质 [P].

黄贵龙 ;

何志平 ;

黄志鹏 .

中国专利 :CN115328774A ,2022-11-11

[10]

软件适配性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

秦志伟 ;

李宇哲 ;

范宇 ;

徐宁 .

中国专利 :CN119512938A ,2025-02-25

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