书写评价软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111648651.8

申请日：

2021-12-29

公开(公告)号：

CN114564380A

公开(公告)日：

2022-05-31

发明(设计)人：

黄欣李开万鸣炜吴仕意

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园C1栋16、22楼

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

王晓妍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	公开	公开
2022-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211229

共 50 条

[1]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙文东 .

中国专利 :CN115640203A ,2023-01-24

[2]

软件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苏雅如 ;

王斯杰 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656286A ,2021-11-16

[3]

软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

戴婉君 ;

方晓霖 .

中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31

[4]

软件测试方法、软件测试系统、电子设备及存储介质 [P].

黄贵龙 ;

何志平 ;

黄志鹏 .

中国专利 :CN115328774A ,2022-11-11

[5]

软件适配性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

秦志伟 ;

李宇哲 ;

范宇 ;

徐宁 .

中国专利 :CN119512938A ,2025-02-25

[6]

软件适配性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

秦志伟 ;

李宇哲 ;

范宇 ;

徐宁 .

中国专利 :CN119512938B ,2025-07-18

[7]

一种软件测试方法、电子设备及可读存储介质 [P].

蔡军 .

中国专利 :CN115495363A ,2022-12-20

[8]

软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

韩志成 ;

郭金京 ;

闫鑫 .

中国专利 :CN111258894A ,2020-06-09

[9]

软件测试综合评价方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张馨文 ;

高深 ;

刘志鹏 .

中国专利 :CN111177004A ,2020-05-19

[10]

软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

孙明刚 ;

刘涛 ;

田镇国 ;

李琦 .

中国专利 :CN120316017A ,2025-07-15

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