模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311772112.4
申请日
2023-12-21
公开(公告)号
CN117707974A
公开(公告)日
2024-03-15
发明(设计)人
黄亮
申请人
中国电信股份有限公司技术创新中心 中国电信股份有限公司
申请人地址
102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
G06N3/092 G06F21/57
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
韦萍
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李胤颉 .
中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21
[2]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
梁一 .
中国专利 :CN115134278A ,2022-09-30
[3]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
梁一 .
中国专利 :CN115134278B ,2024-06-28
[4]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李文杰 .
中国专利 :CN111124926B ,2020-05-08
[5]
软件模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张超 ;
赵博栋 .
中国专利 :CN114328173B ,2022-04-12
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 .
中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 ;
张友平 ;
杨博 .
中国专利 :CN112685296A ,2021-04-20
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱捷 .
中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02