用于对电路进行静态时序分析的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310137009.6

申请日：

2023-02-13

公开(公告)号：

CN118485031A

公开(公告)日：

2024-08-13

发明(设计)人：

黄东润龚杰卫露宁

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

IPC主分类号：

G06F30/3315

IPC分类号：

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

张宁;韩晓薇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/3315申请日:20230213
2024-08-13	公开	公开

共 50 条

[1]

静态时序分析方法和装置 [P].

林哲民 ;

李冰 ;

姚肖依 ;

郭伟伦 ;

杜红 .

中国专利 :CN112069752B ,2020-12-11

[2]

静态时序分析方法及静态时序分析系统 [P].

陈英杰 ;

余美俪 ;

罗幼岚 .

中国专利 :CN117556755A ,2024-02-13

[3]

用于电路设计中的静态时序分析的方法和系统 [P].

刘洋 ;

欧鹏 ;

牛佳 ;

戴红卫 .

中国专利 :CN105701266A ,2016-06-22

[4]

FPGA静态时序分析方法 [P].

杨兴 ;

张海涛 .

中国专利 :CN108073771B ,2018-05-25

[5]

一种静态时序分析方法和装置 [P].

陶思敏 ;

张恒 .

中国专利 :CN106682285A ,2017-05-17

[6]

FPGA电路中的静态时序分析方法、装置、设备及介质 [P].

杨鑫钰 ;

黄侃 ;

邹炎 .

中国专利 :CN119272677A ,2025-01-07

[7]

用于扫描模式执行静态时序分析的方法及装置 [P].

阿朗·沙多 ;

杨林利 .

中国专利 :CN1591036A ,2005-03-09

[8]

用于定制和ASIC设计的静态时序分析和动态仿真 [P].

张卯中 .

中国专利 :CN101137990A ,2008-03-05

[9]

芯片老化的静态时序分析方法、装置和电子设备 [P].

陈权 .

中国专利 :CN112149370B ,2020-12-29

[10]

静态时序分析方法、系统、设备、介质和产品 [P].

张世纪 ;

晁军 ;

沈钲 .

中国专利 :CN118981991A ,2024-11-19

← 1 2 3 4 5 →