电源管理芯片测试方法、装置、测试设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410543657.6

申请日：

2024-04-30

公开(公告)号：

CN118550787A

公开(公告)日：

2024-08-27

发明(设计)人：

马光彬

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215128 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/30

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

聂俊伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/30申请日:20240430
2024-08-27	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[2]

测试设备管理方法、装置、设备及存储介质 [P].

王辽松 ;

陈佃晓 ;

李变 ;

康雯晶 ;

崔魁 ;

张烜鸣 .

中国专利 :CN120256283A ,2025-07-04

[3]

芯片测试方法、芯片测试设备及可读存储介质 [P].

周轲 ;

董阳 ;

张钰磊 .

中国专利 :CN121168363A ,2025-12-19

[4]

智能设备的语音测试方法、装置、测试系统及存储介质 [P].

毛树晓 ;

刘鹏达 ;

许升 .

中国专利 :CN117789759A ,2024-03-29

[5]

网络测试方法、装置、设备、系统及存储介质 [P].

陈煌栋 .

中国专利 :CN120567731A ,2025-08-29

[6]

登录测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴桂忠 .

中国专利 :CN118567967A ,2024-08-30

[7]

特效测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

母召 ;

孙帅 ;

吴翠萍 .

中国专利 :CN117573503A ,2024-02-20

[8]

测试方法、装置及存储介质 [P].

李焕雄 .

中国专利 :CN107783906A ,2018-03-09

[9]

测试管理方法、装置、设备及存储介质 [P].

张东宇 .

中国专利 :CN117609058A ,2024-02-27

[10]

测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

何林江 .

中国专利 :CN115454810A ,2022-12-09

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