一种芯片验证系统及验证方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110550341.6

申请日：

2021-05-20

公开(公告)号：

CN113485875B

公开(公告)日：

2024-07-19

发明(设计)人：

赵云鹏

申请人：

新华三半导体技术有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天华二路219号4栋1单元1层1号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/273

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

马敬;项京

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片验证系统及验证方法 [P].

赵云鹏 .

中国专利 :CN113485875A ,2021-10-08

[2]

一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统 [P].

刘杏肖 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN113239342B ,2024-08-13

[3]

芯片验证系统、芯片验证方法 [P].

田玉利 .

中国专利 :CN113220518A ,2021-08-06

[4]

芯片验证系统、芯片验证方法 [P].

田玉利 .

中国专利 :CN113220518B ,2024-07-16

[5]

一种芯片、验证装置、芯片验证方法和芯片验证系统 [P].

刘杏肖 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN113239342A ,2021-08-10

[6]

芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统 [P].

李涛 ;

曹明才 ;

罗森 ;

张燕 ;

杨立 .

中国专利 :CN120493825A ,2025-08-15

[7]

芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统 [P].

李涛 ;

曹明才 ;

罗森 ;

张燕 ;

杨立 .

中国专利 :CN120493825B ,2025-09-30

[8]

一种液晶驱动芯片验证系统及验证方法 [P].

魏国赢 ;

吕高祥 .

中国专利 :CN117706329A ,2024-03-15

[9]

芯片验证系统、验证方法、设备及介质 [P].

赵建斌 ;

陈一敏 ;

何永孟 .

中国专利 :CN120832275A ,2025-10-24

[10]

RFID标签芯片验证系统及验证方法 [P].

王德明 ;

丁一 ;

丁颜玉 ;

胡建国 .

中国专利 :CN103198341A ,2013-07-10

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