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自動分析装置、および、自動分析装置による分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240107290
申请日
:
2024-07-03
公开(公告)号
:
JP2024127942A
公开(公告)日
:
2024-09-20
发明(设计)人
:
IMANISHI SHOTARO
TAKAHASHI TAKUYA
SAKATA KENSHIRO
申请人
:
HITACHI HIGH TECH CORP
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/02
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
自動分析装置、および、自動分析装置による分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7787243B2
,2025-12-16
[2]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020183982A1
,2021-12-09
[3]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7204878B2
,2023-01-16
[4]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7229335B2
,2023-02-27
[5]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595907B2
,2019-10-23
[6]
自動分析装置、および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6914887B2
,2021-08-04
[7]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6876650B2
,2021-05-26
[8]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6915010B2
,2021-08-04
[9]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010087303A1
,2012-08-02
[10]
自動分析装置、および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6843800B2
,2021-03-17
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