自動分析装置、および、自動分析装置による分析方法[ja]

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申请号
JP20240107290
申请日
2024-07-03
公开(公告)号
JP2024127942A
公开(公告)日
2024-09-20
发明(设计)人
IMANISHI SHOTARO TAKAHASHI TAKUYA SAKATA KENSHIRO
申请人
HITACHI HIGH TECH CORP
申请人地址
IPC主分类号
G01N35/02
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2020183982A1 ,2021-12-09
[3]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7204878B2 ,2023-01-16
[4]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7229335B2 ,2023-02-27
[5]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6595907B2 ,2019-10-23
[6]
自動分析装置、および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6914887B2 ,2021-08-04
[7]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6876650B2 ,2021-05-26
[8]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6915010B2 ,2021-08-04
[9]
自動分析装置および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010087303A1 ,2012-08-02
[10]
自動分析装置、および自動分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6843800B2 ,2021-03-17