测试装置及探针台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411027973.4

申请日：

2024-07-30

公开(公告)号：

CN119001381A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

许军颜宝莲刘文远连军汪小悦

申请人：

安徽光智科技有限公司

申请人地址：

239000 安徽省滁州市琅琊经济开发区南京路100号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

长沙辰齐知壹知识产权代理事务所(普通合伙) 43290

代理人：

李琼芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省安庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20240730
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

探针台测试装置 [P].

谢健 ;

徐斌 ;

杨学良 .

中国专利 :CN223612368U ,2025-11-28

[2]

一种探针台芯片CP测试装置 [P].

徐振 .

中国专利 :CN215067130U ,2021-12-07

[3]

高低温探针台测试装置 [P].

徐斌 ;

杨盛全 .

中国专利 :CN223679236U ,2025-12-16

[4]

高低温探针台测试装置 [P].

肖钊 ;

肖石 ;

汪金文 .

中国专利 :CN212932475U ,2021-04-09

[5]

高低温探针台测试装置 [P].

肖钊 ;

肖石 ;

汪金文 .

中国专利 :CN110361419A ,2019-10-22

[6]

探针及测试装置 [P].

吴俊杰 .

中国专利 :CN211263556U ,2020-08-14

[7]

探针及测试装置 [P].

吴俊杰 .

中国专利 :CN112526178A ,2021-03-19

[8]

探针及测试装置 [P].

吴俊杰 .

中国专利 :CN112526178B ,2025-05-20

[9]

探针卡测试装置及测试装置 [P].

李文聪 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN110927416B ,2020-03-27

[10]

射频探针测试装置 [P].

周夏军 ;

李银龙 .

中国专利 :CN213750024U ,2021-07-20

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