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一种芯片性能检测装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411273838.8
申请日：
2024-09-12
公开(公告)号：
CN118795320A
公开(公告)日：
2024-10-18
发明(设计)人：
张鑫宇
申请人：
天津市智华科技发展有限公司
申请人地址：
300180 天津市河东区津塘路174号院内检测楼（3）108-4
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
天津振一知识产权代理事务所(普通合伙) 12282
代理人：
王德洋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
天津市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-11-05 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240912 |
| 2024-11-15 | 授权 | 授权 |
| 2024-10-18 | 公开 | 公开 |