一种芯片性能检测探针台

被引：0

申请号：

CN202221943226.1

申请日：

2022-07-26

公开(公告)号：

CN218470823U

公开(公告)日：

2023-02-10

发明(设计)人：

刘卫滨

申请人：

申请人地址：

211100 江苏省南京市江宁区通联路7号联东U谷国际企业港3期11幢(江宁高新园)

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R104 G01R3128

代理机构：

南京佰腾智信知识产权代理事务所(普通合伙) 32509

代理人：

胡杰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片性能检测探针台 [P].

马观岚 .

中国专利 :CN214503706U ,2021-10-26

[2]

一种芯片性能检测探针台 [P].

张燕 .

中国专利 :CN218272590U ,2023-01-10

[3]

量子芯片无损检测探针台 [P].

赵勇杰 ;

金贤胜 ;

张福 ;

刘尧 .

中国专利 :CN218412704U ,2023-01-31

[4]

一种芯片无损检测探针装置 [P].

朱中亚 ;

王迎枫 ;

曹宝玉 ;

刘华俊 ;

纪磊 ;

刘开连 .

中国专利 :CN220525892U ,2024-02-23

[5]

一种检测探针 [P].

朱林 ;

朱力 ;

潘玲芳 ;

屠美凤 .

中国专利 :CN207730804U ,2018-08-14

[6]

一种生物基因检测探针 [P].

王金程 ;

王明哲 ;

王哲坤 .

中国专利 :CN217922112U ,2022-11-29

[7]

一种芯片性能检测装置 [P].

张鑫宇 .

中国专利 :CN118795320A ,2024-10-18

[8]

一种芯片性能检测装置 [P].

张鑫宇 .

中国专利 :CN118795320B ,2024-11-15

[9]

一种电池检测探针 [P].

龚耀龙 ;

黄慨 ;

仇龙 .

中国专利 :CN221039185U ,2024-05-28

[10]

一种电池片性能检测用检测探针 [P].

王桂奋 ;

王迎春 ;

王伟 ;

陈伟 .

中国专利 :CN103684253A ,2014-03-26

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