一种芯片性能检测探针台

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专利类型
实用新型
申请号
CN202023091150.8
申请日
2020-12-21
公开(公告)号
CN214503706U
公开(公告)日
2021-10-26
发明(设计)人
马观岚
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇高新区元丰路33号
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
南京纵横知识产权代理有限公司 32224
代理人
朱远枫
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片性能检测探针台 [P]. 
张燕 .
中国专利 :CN218272590U ,2023-01-10
[2]
一种芯片性能检测探针台 [P]. 
刘卫滨 .
中国专利 :CN218470823U ,2023-02-10
[3]
量子芯片无损检测探针台 [P]. 
赵勇杰 ;
金贤胜 ;
张福 ;
刘尧 .
中国专利 :CN218412704U ,2023-01-31
[4]
一种芯片无损检测探针装置 [P]. 
朱中亚 ;
王迎枫 ;
曹宝玉 ;
刘华俊 ;
纪磊 ;
刘开连 .
中国专利 :CN220525892U ,2024-02-23
[5]
一种电池片性能检测用检测探针 [P]. 
王桂奋 ;
王迎春 ;
王伟 ;
陈伟 .
中国专利 :CN203734618U ,2014-07-23
[6]
量子芯片无损检测探针装置 [P]. 
张辉 ;
刘尧 ;
张福 ;
金贤胜 .
中国专利 :CN218213195U ,2023-01-03
[7]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN210534002U ,2020-05-15
[8]
一种检测探针 [P]. 
朱林 ;
朱力 ;
潘玲芳 ;
屠美凤 .
中国专利 :CN207730804U ,2018-08-14
[9]
一种检测探针 [P]. 
全国龙 .
中国专利 :CN217931765U ,2022-11-29
[10]
检测探针 [P]. 
孙聆 ;
肖华锋 ;
赵立 ;
张元标 ;
刘璟旖 ;
邓霄舟 .
中国专利 :CN217818496U ,2022-11-15