量子芯片无损检测探针装置

被引：0

申请号：

CN202221294611.8

申请日：

2022-05-27

公开(公告)号：

CN218213195U

公开(公告)日：

2023-01-03

发明(设计)人：

张辉刘尧张福金贤胜

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

上海和华启核知识产权代理有限公司 31339

代理人：

王仙子

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-03	授权	授权

共 50 条

[1]

量子芯片无损检测探针台 [P].

赵勇杰 ;

金贤胜 ;

张福 ;

刘尧 .

中国专利 :CN218412704U ,2023-01-31

[2]

一种芯片无损检测探针装置 [P].

朱中亚 ;

王迎枫 ;

曹宝玉 ;

刘华俊 ;

纪磊 ;

刘开连 .

中国专利 :CN220525892U ,2024-02-23

[3]

检测探针装置及检测探针模组 [P].

张凯程 .

中国专利 :CN203433009U ,2014-02-12

[4]

检测探针 [P].

孙聆 ;

肖华锋 ;

赵立 ;

张元标 ;

刘璟旖 ;

邓霄舟 .

中国专利 :CN217818496U ,2022-11-15

[5]

检测探针组件 [P].

金准基 .

中国专利 :CN213210244U ,2021-05-14

[6]

一种芯片性能检测探针台 [P].

马观岚 .

中国专利 :CN214503706U ,2021-10-26

[7]

一种芯片性能检测探针台 [P].

张燕 .

中国专利 :CN218272590U ,2023-01-10

[8]

检测探针 [P].

叶云孟 .

中国专利 :CN203178323U ,2013-09-04

[9]

一种半导体芯片检测探针清洁装置 [P].

王勇 .

中国专利 :CN213728214U ,2021-07-20

[10]

检测探针 [P].

A·拉尤 ;

E·贝尔纳尔门德斯 .

中国专利 :CN102083848B ,2011-06-01

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