一种半导体芯片检测探针清洁装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022726555.8

申请日：

2020-11-23

公开(公告)号：

CN213728214U

公开(公告)日：

2021-07-20

发明(设计)人：

王勇

申请人：

申请人地址：

214414 江苏省无锡市江阴市顾山镇花园路30号

IPC主分类号：

B08B310

IPC分类号：

B08B104 B08B308 B08B1300 B08B1504 G01R1073

代理机构：

上海正策律师事务所 31271

代理人：

华祝元

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测探针平台 [P].

肖遵保 ;

许建亚 .

中国专利 :CN210534002U ,2020-05-15

[2]

一种半导体检测探针平台 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN213689843U ,2021-07-13

[3]

一种芯片无损检测探针装置 [P].

朱中亚 ;

王迎枫 ;

曹宝玉 ;

刘华俊 ;

纪磊 ;

刘开连 .

中国专利 :CN220525892U ,2024-02-23

[4]

一种半导体芯片器件双面电学、光学检测探针台系统 [P].

陆冰彬 .

中国专利 :CN215263848U ,2021-12-21

[5]

一种半导体芯片的清洁装置 [P].

唐福 ;

刘超 ;

李响 ;

张慧慧 .

中国专利 :CN220914173U ,2024-05-07

[6]

一种半导体芯片检测装置 [P].

邹伟玲 .

中国专利 :CN215575505U ,2022-01-18

[7]

半导体芯片检测装置 [P].

王志强 ;

王志辉 .

中国专利 :CN213210356U ,2021-05-14

[8]

一种半导体芯片接触式检测探头 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN213689863U ,2021-07-13

[9]

一种半导体芯片接触式检测探头 [P].

吕印普 ;

艾瑞杰 .

中国专利 :CN211013048U ,2020-07-14

[10]

一种半导体芯片接触式检测探头 [P].

柳德亮 .

中国专利 :CN216310080U ,2022-04-15

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