一种异构芯片的性能测试方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411070883.3

申请日：

2024-08-06

公开(公告)号：

CN119025359A

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

翟阳曹岩王静逸唐景峰张国超王楠陈阳

申请人：

中国建设银行股份有限公司建信金融科技有限责任公司

申请人地址：

100033 北京市西城区金融大街25号

IPC主分类号：

G06F11/26

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

胡彬

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	公开	公开
2024-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/26申请日:20240806

共 50 条

[1]

一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118091364A ,2024-05-28

[2]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何品德 .

中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06

[3]

一种软件性能测试方法、装置、介质及电子设备 [P].

刘达伟 .

中国专利 :CN113742226B ,2024-04-30

[4]

一种软件性能测试方法、装置、介质及电子设备 [P].

刘达伟 .

中国专利 :CN113742226A ,2021-12-03

[5]

性能测试方法、电子设备及存储介质 [P].

罗金富 .

中国专利 :CN118093278A ,2024-05-28

[6]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

文波 ;

谷威 .

中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16

[7]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

薛园园 ;

徐文豪 .

中国专利 :CN117471294A ,2024-01-30

[8]

芯片显示性能测试方法、装置及电子设备 [P].

吴鹏 ;

汤鹏川 .

中国专利 :CN119178581A ,2024-12-24

[9]

水阀的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邓站兵 .

中国专利 :CN113624482A ,2021-11-09

[10]

性能测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

汪道航 ;

张帅 ;

孙宏亮 .

中国专利 :CN119862098A ,2025-04-22

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