一种芯片测试方法、装置及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311414794.1

申请日：

2023-10-27

公开(公告)号：

CN117471294A

公开(公告)日：

2024-01-30

发明(设计)人：

薛园园徐文豪

申请人：

新华三半导体技术有限公司

申请人地址：

610213 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区和乐二街150号C6栋2层

IPC主分类号：

G01R31/317

IPC分类号：

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

孟维娜;高莺然

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/317申请日:20231027
2024-01-30	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

文波 ;

谷威 .

中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16

[2]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

徐廷宁 ;

王培吉 ;

娄骏彬 ;

鹿业波 ;

何亦昕 ;

章天雨 .

中国专利 :CN119395510A ,2025-02-07

[3]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

徐廷宁 ;

王培吉 ;

娄骏彬 ;

鹿业波 ;

何亦昕 ;

章天雨 .

中国专利 :CN119395510B ,2025-07-04

[4]

车辆芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨柄楠 ;

王强 ;

赵目龙 ;

王泽尉 ;

田辉 ;

王宗罡 ;

宋金海 ;

李泽 ;

王天宇 ;

王亚明 .

中国专利 :CN119536207A ,2025-02-28

[5]

一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备 [P].

刘祥 ;

雷龙 ;

骆劼行 .

中国专利 :CN117408231B ,2024-04-19

[6]

一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备 [P].

刘祥 ;

雷龙 ;

骆劼行 .

中国专利 :CN117408231A ,2024-01-16

[7]

芯片、芯片测试方法及电子设备 [P].

王毓千 ;

姚水音 ;

梁洪昌 ;

唐志敏 .

中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14

[8]

芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

张君宇 ;

刘璟 ;

吕杭炳 ;

张锋 ;

刘明 .

中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12

[9]

一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

于永庆 ;

谢少辉 ;

吴明飞 ;

靳慧杰 ;

金正雄 ;

杨欣欣 .

中国专利 :CN115184764B ,2025-07-15

[10]

芯片测试方法、装置与电子设备 [P].

高航 .

中国专利 :CN112904179A ,2021-06-04

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