一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311714797.7
申请日
2023-12-14
公开(公告)号
CN117408231B
公开(公告)日
2024-04-19
发明(设计)人
刘祥 雷龙 骆劼行
申请人
上海孤波科技有限公司
申请人地址
201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易实验区碧波路177号503E、503F、503G、503H、503I、503J室
IPC主分类号
G06F40/151
IPC分类号
G06F40/186 G06F11/22
代理机构
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
刘凤
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备 [P]. 
刘祥 ;
雷龙 ;
骆劼行 .
中国专利 :CN117408231A ,2024-01-16
[2]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
文波 ;
谷威 .
中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16
[3]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
薛园园 ;
徐文豪 .
中国专利 :CN117471294A ,2024-01-30
[4]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备 [P]. 
刘勋 ;
柳磊 .
中国专利 :CN118585387B ,2025-08-19
[5]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备 [P]. 
刘勋 ;
柳磊 .
中国专利 :CN118585387A ,2024-09-03
[6]
芯片、芯片测试方法及电子设备 [P]. 
王毓千 ;
姚水音 ;
梁洪昌 ;
唐志敏 .
中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14
[7]
芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
张君宇 ;
刘璟 ;
吕杭炳 ;
张锋 ;
刘明 .
中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12
[8]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
于永庆 ;
谢少辉 ;
吴明飞 ;
靳慧杰 ;
金正雄 ;
杨欣欣 .
中国专利 :CN115184764B ,2025-07-15
[9]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510A ,2025-02-07
[10]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510B ,2025-07-04