一种芯片、芯片的测试方法及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410635785.3

申请日：

2024-05-21

公开(公告)号：

CN118585387B

公开(公告)日：

2025-08-19

发明(设计)人：

刘勋柳磊

申请人：

海光信息技术（成都）有限公司

申请人地址：

610095 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号7栋2单元10楼1002号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G01R31/28 G06F11/267 G06F15/78

代理机构：

上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327

代理人：

汤陈龙

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240521
2025-08-19	授权	授权
2024-09-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片、芯片的测试方法及电子设备 [P].

刘勋 ;

柳磊 .

中国专利 :CN118585387A ,2024-09-03

[2]

测试芯片及电子设备的测试方法 [P].

胡浩 .

中国专利 :CN110597677A ,2019-12-20

[3]

芯片、芯片测试方法及电子设备 [P].

王毓千 ;

姚水音 ;

梁洪昌 ;

唐志敏 .

中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14

[4]

芯片、芯片测试系统、方法及电子设备 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120994483A ,2025-11-21

[5]

一种芯片、芯片封装结构、芯片测试方法及电子设备 [P].

张国 ;

詹利昌 ;

张心标 ;

曾辉 .

中国专利 :CN118711639A ,2024-09-27

[6]

芯片、芯片启动方法及电子设备 [P].

杨雄 ;

陈立勤 .

中国专利 :CN121116410A ,2025-12-12

[7]

一种芯片测试方法及电子设备 [P].

吕浩 ;

姚宏展 ;

顾卓异 .

中国专利 :CN120145955A ,2025-06-13

[8]

芯片测试方法、测试板卡和电子设备 [P].

毕然 ;

赵飞 .

中国专利 :CN121027800A ,2025-11-28

[9]

芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

张君宇 ;

刘璟 ;

吕杭炳 ;

张锋 ;

刘明 .

中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12

[10]

电子芯片、电子芯片的检测方法及电子设备 [P].

黄钧 .

中国专利 :CN115577670A ,2023-01-06

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