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一种芯片测试方法及电子设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510373150.5
申请日：
2025-03-27
公开(公告)号：
CN120145955A
公开(公告)日：
2025-06-13
发明(设计)人：
吕浩
姚宏展
顾卓异
申请人：
北京算能科技有限公司
申请人地址：
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街8号院8号楼9层901（北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团）
IPC主分类号：
G06F30/33
IPC分类号：
G06N3/006
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
杨静
法律状态：
公开
国省代码：
安徽省
宣城市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-06-13 | 公开 | 公开 |
| 2025-07-01 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20250327 |