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一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510990556.8
申请日：
2025-07-17
公开(公告)号：
CN120870811A
公开(公告)日：
2025-10-31
发明(设计)人：
曹建勋 章晨杰 葛丽颖
申请人：
成都海光微电子技术有限公司
申请人地址：
610041 四川省成都市高新区和乐二街171号4栋
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G06F9/445
代理机构：
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人：
张仲波
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-31 公开 公开
2025-11-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250717
共 50 条
[1]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张淼 .
中国专利 :CN120446723A ,2025-08-08
[2]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何骁伟 ;
杨国文 ;
吴义桂 ;
季宿儒 ;
张清华 .
中国专利 :CN112415365B ,2021-02-26
[3]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨国文 ;
何骁伟 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN112612659A ,2021-04-06
[4]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN120629868A ,2025-09-12
[5]
芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王宇 .
中国专利 :CN117007933B ,2025-05-16
[6]
芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李强 .
中国专利 :CN117872087A ,2024-04-12
[7]
芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李强 .
中国专利 :CN117872087B ,2024-11-19
[8]
芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
朴英斗 ;
宋秀良 ;
刘金海 .
中国专利 :CN114121140A ,2022-03-01
[9]
一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
刘鑫 ;
高国重 ;
张子彬 .
中国专利 :CN118795313A ,2024-10-18
[10]
芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李振贤 ;
穆剑昇 ;
张一帆 .
中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04
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