一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510676745.8

申请日：

2025-05-22

公开(公告)号：

CN120629868A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

成学娇林耀坤吴义桂

申请人：

海光信息技术股份有限公司

申请人地址：

300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

天津市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250522
2025-09-12	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

朴英斗 ;

宋秀良 ;

刘金海 .

中国专利 :CN114121140A ,2022-03-01

[2]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

王宇 .

中国专利 :CN117007933B ,2025-05-16

[3]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李强 .

中国专利 :CN117872087A ,2024-04-12

[4]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李强 .

中国专利 :CN117872087B ,2024-11-19

[5]

一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

刘鑫 ;

高国重 ;

张子彬 .

中国专利 :CN118795313A ,2024-10-18

[6]

一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

曹建勋 ;

章晨杰 ;

葛丽颖 .

中国专利 :CN120870811A ,2025-10-31

[7]

芯片测试方法、装置、芯片及计算机可读存储介质 [P].

欧阳可青 ;

彭敏强 ;

周国华 ;

潘飞龙 ;

陈雷 .

中国专利 :CN117783809A ,2024-03-29

[8]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

闫世显 ;

陈明宇 ;

李作骏 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117688878A ,2024-03-12

[9]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李作骏 ;

闫世显 ;

陈明宇 ;

卢天越 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117709253A ,2024-03-15

[10]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李作骏 ;

闫世显 ;

陈明宇 ;

卢天越 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117709253B ,2024-04-26

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