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芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202210466608.8
申请日：
2022-04-29
公开(公告)号：
CN117007933B
公开(公告)日：
2025-05-16
发明(设计)人：
王宇
申请人：
象帝先计算技术（重庆）有限公司
申请人地址：
401135 重庆市渝北区龙兴镇两江大道618号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R31/3185
代理机构：
北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397
代理人：
王俊博;徐雪峤
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-05-16 | 授权 | 授权 |