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芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510139260.5
申请日：
2025-02-08
公开(公告)号：
CN119575148A
公开(公告)日：
2025-03-07
发明(设计)人：
陈鑫龙
申请人：
深圳市晶存科技股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人：
林灿伟
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-03-07 | 公开 | 公开 |
| 2025-05-13 | 授权 | 授权 |
| 2025-03-25 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250208 |