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一种芯片测试板、方法及电子设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410696528.0
申请日
:
2024-05-31
公开(公告)号
:
CN118604572A
公开(公告)日
:
2024-09-06
发明(设计)人
:
高思明
申请人
:
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市万慧达律师事务所 11111
代理人
:
劳奕琴
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-09-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240531
2024-09-06
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片、芯片测试方法及电子设备
[P].
王毓千
论文数:
0
引用数:
0
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王毓千
;
姚水音
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姚水音
;
梁洪昌
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梁洪昌
;
唐志敏
论文数:
0
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0
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唐志敏
.
中国专利
:CN112805577A
,2021-05-14
[2]
一种芯片测试方法及电子设备
[P].
吕浩
论文数:
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机构:
北京算能科技有限公司
北京算能科技有限公司
吕浩
;
姚宏展
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机构:
北京算能科技有限公司
北京算能科技有限公司
姚宏展
;
顾卓异
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机构:
北京算能科技有限公司
北京算能科技有限公司
顾卓异
.
中国专利
:CN120145955A
,2025-06-13
[3]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备
[P].
刘勋
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机构:
海光信息技术(成都)有限公司
海光信息技术(成都)有限公司
刘勋
;
柳磊
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机构:
海光信息技术(成都)有限公司
海光信息技术(成都)有限公司
柳磊
.
中国专利
:CN118585387B
,2025-08-19
[4]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备
[P].
刘勋
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机构:
海光信息技术(成都)有限公司
海光信息技术(成都)有限公司
刘勋
;
柳磊
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机构:
海光信息技术(成都)有限公司
海光信息技术(成都)有限公司
柳磊
.
中国专利
:CN118585387A
,2024-09-03
[5]
芯片、芯片测试系统、方法及电子设备
[P].
请求不公布姓名
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0
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机构:
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN120994483A
,2025-11-21
[6]
一种芯片、芯片封装结构、芯片测试方法及电子设备
[P].
张国
论文数:
0
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机构:
成都海光集成电路设计有限公司
成都海光集成电路设计有限公司
张国
;
詹利昌
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机构:
成都海光集成电路设计有限公司
成都海光集成电路设计有限公司
詹利昌
;
张心标
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机构:
成都海光集成电路设计有限公司
成都海光集成电路设计有限公司
张心标
;
曾辉
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机构:
成都海光集成电路设计有限公司
成都海光集成电路设计有限公司
曾辉
.
中国专利
:CN118711639A
,2024-09-27
[7]
一种芯片测试方法、装置及电子设备
[P].
徐廷宁
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
徐廷宁
;
王培吉
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
王培吉
;
娄骏彬
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
娄骏彬
;
鹿业波
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
鹿业波
;
何亦昕
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
何亦昕
;
章天雨
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
章天雨
.
中国专利
:CN119395510A
,2025-02-07
[8]
一种芯片测试方法、装置及电子设备
[P].
徐廷宁
论文数:
0
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
徐廷宁
;
王培吉
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
王培吉
;
娄骏彬
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
娄骏彬
;
鹿业波
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0
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
鹿业波
;
何亦昕
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
何亦昕
;
章天雨
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机构:
浙江帕奇伟业半导体有限公司
浙江帕奇伟业半导体有限公司
章天雨
.
中国专利
:CN119395510B
,2025-07-04
[9]
一种芯片测试方法、装置及电子设备
[P].
文波
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0
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机构:
成都海光微电子技术有限公司
成都海光微电子技术有限公司
文波
;
谷威
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机构:
成都海光微电子技术有限公司
成都海光微电子技术有限公司
谷威
.
中国专利
:CN118501653A
,2024-08-16
[10]
一种芯片测试方法、装置及电子设备
[P].
薛园园
论文数:
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机构:
新华三半导体技术有限公司
新华三半导体技术有限公司
薛园园
;
徐文豪
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0
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机构:
新华三半导体技术有限公司
新华三半导体技术有限公司
徐文豪
.
中国专利
:CN117471294A
,2024-01-30
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