一种芯片测试板、方法及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410696528.0
申请日
2024-05-31
公开(公告)号
CN118604572A
公开(公告)日
2024-09-06
发明(设计)人
高思明
申请人
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
北京市万慧达律师事务所 11111
代理人
劳奕琴
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片、芯片测试方法及电子设备 [P]. 
王毓千 ;
姚水音 ;
梁洪昌 ;
唐志敏 .
中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14
[2]
一种芯片测试方法及电子设备 [P]. 
吕浩 ;
姚宏展 ;
顾卓异 .
中国专利 :CN120145955A ,2025-06-13
[3]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备 [P]. 
刘勋 ;
柳磊 .
中国专利 :CN118585387B ,2025-08-19
[4]
一种芯片、芯片的测试方法及电子设备 [P]. 
刘勋 ;
柳磊 .
中国专利 :CN118585387A ,2024-09-03
[5]
芯片、芯片测试系统、方法及电子设备 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120994483A ,2025-11-21
[6]
一种芯片、芯片封装结构、芯片测试方法及电子设备 [P]. 
张国 ;
詹利昌 ;
张心标 ;
曾辉 .
中国专利 :CN118711639A ,2024-09-27
[7]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510A ,2025-02-07
[8]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510B ,2025-07-04
[9]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
文波 ;
谷威 .
中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16
[10]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
薛园园 ;
徐文豪 .
中国专利 :CN117471294A ,2024-01-30