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用于交叉链路干扰测量的方面

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202380031733.9
申请日：
2023-03-14
公开(公告)号：
CN119054222A
公开(公告)日：
2024-11-29
发明(设计)人：
白天阳 周彦 张倩 厉隽怿 骆涛
申请人：
高通股份有限公司
申请人地址：
美国加利福尼亚
IPC主分类号：
H04B7/08
IPC分类号：
H04B17/345 H04W24/10
代理机构：
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人：
张殿慧
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-12-17 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04B 7/08申请日:20230314
2024-11-29 公开 公开
共 50 条
[1]
用于交叉链路干扰测量的用户装备处理能力方面 [P]. 
白天阳 ;
周彦 ;
张倩 ;
厉隽怿 ;
骆涛 .
美国专利 :CN118947072A ,2024-11-12
[2]
测量交叉链路干扰 [P]. 
张晓霞 ;
V.钱德 ;
J.孙 ;
骆涛 ;
J.蒙托霍 ;
A.钱达马莱卡南 .
中国专利 :CN115398962A ,2022-11-25
[3]
测量交叉链路干扰 [P]. 
张晓霞 ;
V.钱德 ;
J.孙 ;
骆涛 ;
J.蒙托霍 ;
A.钱达马莱卡南 .
美国专利 :CN115398962B ,2024-09-27
[4]
交叉链路干扰测量配置 [P]. 
徐慧琳 ;
马瑞丰 .
美国专利 :CN115336315B ,2024-05-17
[5]
交叉链路干扰测量配置 [P]. 
徐慧琳 ;
马瑞丰 .
中国专利 :CN115336315A ,2022-11-11
[6]
用于交叉链路干扰测量的参考信号 [P]. 
任余维 ;
徐慧琳 ;
Q·何 .
美国专利 :CN115462111B ,2024-10-29
[7]
用于交叉链路干扰测量的参考信号 [P]. 
任余维 ;
徐慧琳 ;
Q·何 .
中国专利 :CN115462111A ,2022-12-09
[8]
多波束上的交叉链路干扰测量 [P]. 
徐慧琳 ;
何群峰 ;
任余维 .
美国专利 :CN115699861B ,2025-02-14
[9]
多波束上的交叉链路干扰测量 [P]. 
徐慧琳 ;
何群峰 ;
任余维 .
中国专利 :CN115699861A ,2023-02-03
[10]
位置辅助的交叉链路干扰测量 [P]. 
A·马诺拉科斯 ;
徐慧琳 ;
J·K·孙达拉拉詹 ;
G·斯里德哈兰 ;
J·B·索里阿加 .
中国专利 :CN114223172A ,2022-03-22
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