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多波束上的交叉链路干扰测量

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080101776.6
申请日：
2020-06-11
公开(公告)号：
CN115699861B
公开(公告)日：
2025-02-14
发明(设计)人：
徐慧琳 何群峰 任余维
申请人：
高通股份有限公司
申请人地址：
美国加利福尼亚州
IPC主分类号：
H04W24/10
IPC分类号：
H04L5/00 H04B17/345
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
亓云;陈炜
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-14 授权 授权
共 50 条
[1]
多波束上的交叉链路干扰测量 [P]. 
徐慧琳 ;
何群峰 ;
任余维 .
中国专利 :CN115699861A ,2023-02-03
[2]
测量交叉链路干扰 [P]. 
张晓霞 ;
V.钱德 ;
J.孙 ;
骆涛 ;
J.蒙托霍 ;
A.钱达马莱卡南 .
中国专利 :CN115398962A ,2022-11-25
[3]
测量交叉链路干扰 [P]. 
张晓霞 ;
V.钱德 ;
J.孙 ;
骆涛 ;
J.蒙托霍 ;
A.钱达马莱卡南 .
美国专利 :CN115398962B ,2024-09-27
[4]
用于交叉链路干扰测量的发送和接收波束管理 [P]. 
白天阳 ;
周彦 ;
张倩 ;
厉隽怿 ;
骆涛 .
美国专利 :CN118975151A ,2024-11-15
[5]
用于交叉链路干扰测量的方面 [P]. 
白天阳 ;
周彦 ;
张倩 ;
厉隽怿 ;
骆涛 .
美国专利 :CN119054222A ,2024-11-29
[6]
交叉链路干扰测量配置 [P]. 
徐慧琳 ;
马瑞丰 .
美国专利 :CN115336315B ,2024-05-17
[7]
交叉链路干扰测量配置 [P]. 
徐慧琳 ;
马瑞丰 .
中国专利 :CN115336315A ,2022-11-11
[8]
用于交叉链路干扰测量的参考信号 [P]. 
任余维 ;
徐慧琳 ;
Q·何 .
美国专利 :CN115462111B ,2024-10-29
[9]
用于交叉链路干扰测量的参考信号 [P]. 
任余维 ;
徐慧琳 ;
Q·何 .
中国专利 :CN115462111A ,2022-12-09
[10]
交叉链路干扰的自适应测量 [P]. 
杜蕾 ;
L·达尔斯加德 ;
S·赛瓦加纳帕西 .
中国专利 :CN115176491B ,2024-11-19
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