一种芯片测试用夹具

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专利类型
发明
申请号
CN202411012844.8
申请日
2024-07-26
公开(公告)号
CN119024014A
公开(公告)日
2024-11-26
发明(设计)人
张哲远 于涛
申请人
上海帆测科技发展有限公司
申请人地址
201100 上海市闵行区元江路5500号第2幢1209室
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
B25B11/00 G01R31/28
代理机构
上海申晟知识产权代理有限公司 31444
代理人
周朝增
法律状态
公开
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
曾丹萍 ;
秦超强 .
中国专利 :CN216979133U ,2022-07-15
[2]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
朱延政 .
中国专利 :CN212159870U ,2020-12-15
[3]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209894847U ,2020-01-03
[4]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
彭河蒙 ;
郭小童 ;
范树迁 ;
刘懿铭 .
中国专利 :CN117589674B ,2024-09-17
[5]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
彭河蒙 ;
郭小童 ;
范树迁 ;
刘懿铭 .
中国专利 :CN117589674A ,2024-02-23
[6]
一种芯片测试用夹具 [P]. 
王兰松 ;
汤国锋 .
中国专利 :CN223406810U ,2025-10-03
[7]
一种夹具及芯片测试用夹具 [P]. 
包静 ;
向芬 ;
马震伟 ;
吴忠洁 .
中国专利 :CN223406842U ,2025-10-03
[8]
一种封装芯片测试用夹具 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN114895174A ,2022-08-12
[9]
一种封装芯片测试用夹具 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN114895174B ,2025-03-04
[10]
一种芯片测试用智能调节夹具 [P]. 
郭佳伟 .
中国专利 :CN114252659A ,2022-03-29