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一种建筑物表观缺陷检测方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411377900.8
申请日
:
2024-09-30
公开(公告)号
:
CN118941554A
公开(公告)日
:
2024-11-12
发明(设计)人
:
钟志彬
马超
黄尚珩
崔凯
何晓彤
刘启超
李杰
刘苓杰
周其健
申请人
:
成都建工第三建筑工程有限公司
申请人地址
:
610021 四川省成都市锦江区东风路二段25号
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06V10/764
G06V10/44
G06V10/46
G06V10/54
G06V10/56
G06V10/80
G06V10/77
G06V20/10
G06V10/74
G06V10/82
G06N3/0464
G06N3/084
G06N3/048
代理机构
:
四川恒和信律师事务所 51342
代理人
:
吴亦雨
法律状态
:
授权
国省代码
:
四川省 成都市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-10
授权
授权
2024-11-29
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240930
2024-11-12
公开
公开
共 50 条
[1]
一种建筑物表观缺陷检测方法及系统
[P].
钟志彬
论文数:
0
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机构:
成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
钟志彬
;
马超
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机构:
成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
马超
;
黄尚珩
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成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
黄尚珩
;
崔凯
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机构:
成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
崔凯
;
何晓彤
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机构:
成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
何晓彤
;
刘启超
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成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
刘启超
;
李杰
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成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
李杰
;
刘苓杰
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成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
刘苓杰
;
周其健
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机构:
成都建工第三建筑工程有限公司
成都建工第三建筑工程有限公司
周其健
.
中国专利
:CN118941554B
,2024-12-10
[2]
建筑物表面缺陷检测方法及系统
[P].
尚砚娜
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尚砚娜
;
石晶欣
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石晶欣
;
赵岩
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赵岩
;
蔡友发
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蔡友发
;
朱君尧
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朱君尧
.
中国专利
:CN105608695A
,2016-05-25
[3]
一种建筑物表面缺陷的数据集构建方法、检测方法及系统
[P].
易圣辉
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深圳北理莫斯科大学
深圳北理莫斯科大学
易圣辉
;
王志华
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深圳北理莫斯科大学
深圳北理莫斯科大学
王志华
;
熊旭东
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深圳北理莫斯科大学
深圳北理莫斯科大学
熊旭东
;
刘小丫
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深圳北理莫斯科大学
深圳北理莫斯科大学
刘小丫
;
刘振男
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机构:
深圳北理莫斯科大学
深圳北理莫斯科大学
刘振男
;
论文数:
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机构:
秦庆华
.
中国专利
:CN119851064A
,2025-04-18
[4]
一种建筑物检测方法及系统
[P].
刘康
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刘康
;
安源
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安源
;
朱济帅
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朱济帅
;
陈木森
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陈木森
;
邓美环
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邓美环
;
李小宝
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李小宝
;
李海霞
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李海霞
.
中国专利
:CN113822220A
,2021-12-21
[5]
一种建筑物检测方法及系统
[P].
刘康
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
刘康
;
安源
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海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
安源
;
朱济帅
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
朱济帅
;
陈木森
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
陈木森
;
邓美环
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
邓美环
;
李小宝
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
李小宝
;
李海霞
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机构:
海南长光卫星信息技术有限公司
海南长光卫星信息技术有限公司
李海霞
.
中国专利
:CN113822220B
,2024-08-20
[6]
一种建筑物缺陷的检测方法及智能成像装置
[P].
罗国栋
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长沙市鑫泰仪器有限公司
长沙市鑫泰仪器有限公司
罗国栋
.
中国专利
:CN120976768A
,2025-11-18
[7]
一种建筑物安全检测方法及建筑物安全检测系统
[P].
张涛
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张涛
;
杜东东
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杜东东
;
贾芳苗
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贾芳苗
.
中国专利
:CN112699435A
,2021-04-23
[8]
建筑物缺陷的检测方法及装置
[P].
陈治任
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陈治任
;
刘绍光
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刘绍光
;
张勇
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张勇
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陈刚
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陈刚
;
周远
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周远
.
中国专利
:CN113112098A
,2021-07-13
[9]
一种芯片表观缺陷检测方法
[P].
袁小芳
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袁小芳
;
刘琛
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刘琛
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田争鸣
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田争鸣
;
王浩然
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王浩然
;
陈祎婧
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陈祎婧
;
肖祥慧
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肖祥慧
.
中国专利
:CN109785316B
,2019-05-21
[10]
核电站混凝土建筑物缺陷检测方法、设备及系统
[P].
蔡建涛
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蔡建涛
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何锐
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何锐
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沈东明
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沈东明
;
李少纯
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李少纯
.
中国专利
:CN104076040A
,2014-10-01
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