一种芯片表观缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910061382.1

申请日：

2019-01-22

公开(公告)号：

CN109785316B

公开(公告)日：

2019-05-21

发明(设计)人：

袁小芳刘琛田争鸣王浩然陈祎婧肖祥慧

申请人：

申请人地址：

410082 湖南省长沙市岳麓区湖南大学

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7136 G06T730 G01N21956

代理机构：

长沙市护航专利代理事务所(特殊普通合伙) 43220

代理人：

谢新苗

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20190122
2022-12-02	授权	授权
2019-05-21	公开	公开

共 50 条

[1]

一种PCB表观微小缺陷检测系统 [P].

王兴国 ;

邓皓 ;

胡玉寒 ;

张雨新 ;

肖兵 .

中国专利 :CN117825406A ,2024-04-05

[2]

一种基于AOI的子弹表观缺陷检测方法 [P].

杨雷 ;

尹志强 ;

赵泽东 ;

陈仕隆 ;

吕坤 .

中国专利 :CN104122271A ,2014-10-29

[3]

一种PVC地板的表观缺陷检测方法、系统 [P].

艾华 .

中国专利 :CN114170155A ,2022-03-11

[4]

一种芯片潜在缺陷检测方法 [P].

王测天 ;

钟丹 ;

胡柳林 ;

邬海峰 ;

吕继平 ;

陈长风 ;

吴晓东 ;

石君 ;

彭郑 ;

童伟 .

中国专利 :CN113945823B ,2024-04-09

[5]

一种芯片外观缺陷检测方法 [P].

仝敬烁 ;

姜红亮 ;

薛伟 ;

胡洪 ;

谢美奇 ;

朱伟杰 ;

仝浩杰 .

中国专利 :CN120411002A ,2025-08-01

[6]

一种芯片潜在缺陷检测方法 [P].

王测天 ;

钟丹 ;

胡柳林 ;

邬海峰 ;

吕继平 ;

陈长风 ;

吴晓东 ;

石君 ;

彭郑 ;

童伟 .

中国专利 :CN113945823A ,2022-01-18

[7]

一种倒装焊芯片缺陷检测方法及系统 [P].

宿磊 ;

胡啸 ;

李可 ;

顾杰斐 .

中国专利 :CN115078552A ,2022-09-20

[8]

一种建筑物表观缺陷检测方法及系统 [P].

钟志彬 ;

马超 ;

黄尚珩 ;

崔凯 ;

何晓彤 ;

刘启超 ;

李杰 ;

刘苓杰 ;

周其健 .

中国专利 :CN118941554A ,2024-11-12

[9]

一种建筑物表观缺陷检测方法及系统 [P].

钟志彬 ;

马超 ;

黄尚珩 ;

崔凯 ;

何晓彤 ;

刘启超 ;

李杰 ;

刘苓杰 ;

周其健 .

中国专利 :CN118941554B ,2024-12-10

[10]

一种PVC地板的表观缺陷检测方法、装置及终端设备 [P].

李栋 ;

孙波 ;

缪诚钰 .

中国专利 :CN110068578B ,2019-07-30

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