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一种PCB表观微小缺陷检测系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311748973.9
申请日
:
2023-12-18
公开(公告)号
:
CN117825406A
公开(公告)日
:
2024-04-05
发明(设计)人
:
王兴国
邓皓
胡玉寒
张雨新
肖兵
申请人
:
宜宾显微智能科技有限公司
申请人地址
:
644600 四川省宜宾市叙州区柏溪街道二二四(上锦美域)1幢1层6号、3层1-3号、3层6-8号
IPC主分类号
:
G01N21/95
IPC分类号
:
G01N21/956
G01N21/01
G06T7/00
G06T7/33
G06T7/73
G06N3/045
G06N3/084
代理机构
:
成都华辰智合知识产权代理有限公司 51302
代理人
:
秦华云
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
四川省 宜宾市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-23
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20231218
2024-04-05
公开
公开
共 50 条
[1]
一种基于分层图像的PCB板缺陷检测系统和方法
[P].
刘西峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘西峰
;
胡玉薇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡玉薇
.
中国专利
:CN106897994A
,2017-06-27
[2]
缺陷检测系统、PCB线路缺陷检测方法及可读存储介质
[P].
李威剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
李威剑
;
尹天骄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
尹天骄
;
郭晓觅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
郭晓觅
;
杨浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
杨浩
;
童毅炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
童毅炜
;
张逸颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
张逸颖
;
樊天宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
常州识元技术有限公司
常州识元技术有限公司
樊天宇
.
中国专利
:CN120028248A
,2025-05-23
[3]
一种PCB文字区域缺陷检测方法
[P].
李海青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李海青
;
陈丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈丽
;
侯广琦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
侯广琦
.
中国专利
:CN112419260A
,2021-02-26
[4]
一种缺陷检测系统和缺陷检测方法
[P].
高建祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高建祥
.
中国专利
:CN111208144B
,2020-05-29
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茹泽伟
;
刁梁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刁梁
;
付磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
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