芯片测试方法及电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411545475.9

申请日：

2024-11-01

公开(公告)号：

CN119068957A

公开(公告)日：

2024-12-03

发明(设计)人：

赖俊生

申请人：

皇虎测试科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层

IPC主分类号：

G11C29/04

IPC分类号：

G06T7/00 G06T7/13

代理机构：

北京鸿元知识产权代理有限公司 11327

代理人：

王迎;袁文婷

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	授权	授权
2024-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/04申请日:20241101
2024-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法及电路 [P].

赖俊生 .

中国专利 :CN119068957B ,2025-03-28

[2]

测试电路及芯片测试方法 [P].

李家辉 ;

李伟 ;

胡凛 .

中国专利 :CN118465495A ,2024-08-09

[3]

测试电路及芯片测试方法 [P].

李家辉 ;

李伟 ;

胡凛 .

中国专利 :CN118465495B ,2025-03-07

[4]

芯片安全测试电路、方法及设备 [P].

曲晨冰 ;

王乃晔 ;

侯波 ;

孙宸 ;

王力纬 ;

恩云飞 ;

黄云 ;

路国光 .

中国专利 :CN116359708B ,2024-05-17

[5]

芯片测试电路、芯片及测试设备 [P].

严波 ;

罗浚洲 ;

王悦 .

中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01

[6]

芯片测试方法、测试电路及测试系统 [P].

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117723936A ,2024-03-19

[7]

一种芯片电路测试系统及芯片电路测试方法 [P].

易斌 ;

兰金国 ;

赵杰 ;

赵雅梅 .

中国专利 :CN117983553A ,2024-05-07

[8]

一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P].

李宏俊 ;

谭鑫 ;

聂玉庆 .

中国专利 :CN120468631B ,2025-10-21

[9]

一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P].

李宏俊 ;

谭鑫 ;

聂玉庆 .

中国专利 :CN120468631A ,2025-08-12

[10]

芯片测试电路、测试方法及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113567841A ,2021-10-29

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