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芯片安全测试电路、方法及设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310344389.0
申请日：
2023-03-31
公开(公告)号：
CN116359708B
公开(公告)日：
2024-05-17
发明(设计)人：
曲晨冰 王乃晔 侯波 孙宸 王力纬 恩云飞 黄云 路国光
申请人：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址：
511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
黄晓庆
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-17 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20
[2]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25
[3]
一种芯片测试电路、芯片测试方法及设备 [P]. 
李海龙 .
中国专利 :CN119596099A ,2025-03-11
[4]
测试电路及芯片测试方法 [P]. 
李家辉 ;
李伟 ;
胡凛 .
中国专利 :CN118465495A ,2024-08-09
[5]
测试电路及芯片测试方法 [P]. 
李家辉 ;
李伟 ;
胡凛 .
中国专利 :CN118465495B ,2025-03-07
[6]
芯片测试方法及电路 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119068957B ,2025-03-28
[7]
芯片测试方法及电路 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119068957A ,2024-12-03
[8]
芯片测试电路、芯片及测试设备 [P]. 
严波 ;
罗浚洲 ;
王悦 .
中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01
[9]
芯片测试设备及芯片测试方法 [P]. 
潘月胜 ;
王梓 ;
霍亮 .
中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13
[10]
低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备 [P]. 
王瀚锌 .
中国专利 :CN120294544A ,2025-07-11
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