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检查装置以及检查方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202280090522.8
申请日：
2022-11-29
公开(公告)号：
CN118901003A
公开(公告)日：
2024-11-05
发明(设计)人：
冢本健夫
申请人：
佳能安内华股份有限公司
申请人地址：
日本神奈川
IPC主分类号：
G01N23/223
IPC分类号：
G01N23/04 G01N23/2206
代理机构：
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人：
郑瑾
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-11-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20221129
2024-11-05 公开 公开
共 50 条
[1]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118661093A ,2024-09-17
[2]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118661094A ,2024-09-17
[3]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118891514A ,2024-11-01
[4]
TFT基板检查装置以及TFT基板检查方法 [P]. 
今井大辅 .
中国专利 :CN102667507A ,2012-09-12
[5]
检查装置以及检查方法 [P]. 
永田泰史 .
中国专利 :CN106796179B ,2017-05-31
[6]
检查方法以及检查装置 [P]. 
中岛伸也 .
中国专利 :CN115574714A ,2023-01-06
[7]
检查装置以及检查方法 [P]. 
木川洋一 .
中国专利 :CN108090890A ,2018-05-29
[8]
检查方法以及检查装置 [P]. 
中岛伸也 .
中国专利 :CN113804705A ,2021-12-17
[9]
检查方法以及检查装置 [P]. 
中岛伸也 .
中国专利 :CN115682925A ,2023-02-03
[10]
检查装置以及检查方法 [P]. 
礼田千惠 ;
塚田敏彦 ;
宫地修平 ;
猪原友纪 ;
鲷直树 ;
宫崎秀和 .
中国专利 :CN107121438A ,2017-09-01
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