一种测试向量的生成方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411113452.0

申请日：

2024-08-14

公开(公告)号：

CN118914816A

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

邓琛洪钦智沈钲

申请人：

比科奇微电子（杭州）有限公司

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区长河街道南环路1568号寰诺大厦232室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06F17/16

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

张琛

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	公开	公开
2024-11-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240814
2025-12-09	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:比科奇微电子（杭州）有限公司变更后:比科奇微电子（杭州）有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:310051 浙江省杭州市滨江区长河街道南环路1568号寰诺大厦232室变更后:310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道月明路33号B座501室

共 50 条

[1]

一种测试向量的生成方法 [P].

李磊 ;

周婉婷 .

中国专利 :CN117421732A ,2024-01-19

[2]

一种测试向量生成方法 [P].

刘鹏 ;

张晓峰 ;

赵月明 ;

季晓燕 ;

孙宇凯 ;

岳红维 ;

王君从 ;

田爱国 ;

戴强 ;

崔海龙 ;

沈贵元 ;

胡美玲 .

中国专利 :CN113466675B ,2021-10-01

[3]

测试向量生成方法、装置和计算设备 [P].

刘岩 ;

董雨晴 ;

范凯毓 ;

叶相相 ;

许泽洲 ;

王旭 ;

程之龙 ;

虢政 .

中国专利 :CN119916176A ,2025-05-02

[4]

一种测试向量生成方法及装置 [P].

赵鑫鑫 ;

姜凯 ;

李朋 ;

尹超 .

中国专利 :CN108319534B ,2018-07-24

[5]

一种模板驱动的测试向量生成方法 [P].

黄乐天 ;

庄沧隆 ;

张云睿 ;

李芳 .

中国专利 :CN120144377A ,2025-06-13

[6]

电路设计中的测试向量生成方法和装置 [P].

汪宝华 ;

张炜铭 ;

杨飞 ;

丁晓天 ;

黄宇 ;

李鹏举 .

中国专利 :CN120044376A ,2025-05-27

[7]

一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备 [P].

茆晓军 .

中国专利 :CN112804708B ,2021-05-14

[8]

一种测试向量生成方法、装置及存储介质 [P].

钱静洁 .

中国专利 :CN114398848B ,2024-06-18

[9]

一种存储器测试向量生成方法 [P].

孙磊 .

中国专利 :CN119068965A ,2024-12-03

[10]

一种用于PCIE接口的测试向量生成方法及装置 [P].

赵鑫鑫 ;

姜凯 ;

李朋 .

中国专利 :CN109101389A ,2018-12-28

← 1 2 3 4 5 →