一种存储器测试向量生成方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411278887.0

申请日：

2024-09-12

公开(公告)号：

CN119068965A

公开(公告)日：

2024-12-03

发明(设计)人：

孙磊

申请人：

中国电子科技集团公司第五十八研究所

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340

代理人：

杨立秋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240912
2024-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法 [P].

刘刚 ;

陈泳洁 ;

范坤 ;

杨晓 ;

沈世科 ;

黄凯冬 .

中国专利 :CN115762613B ,2025-10-10

[2]

存储器仿真测试向量生成方法、装置、设备和介质 [P].

丁瀚达 .

中国专利 :CN121011240A ,2025-11-25

[3]

一种测试向量生成方法 [P].

刘鹏 ;

张晓峰 ;

赵月明 ;

季晓燕 ;

孙宇凯 ;

岳红维 ;

王君从 ;

田爱国 ;

戴强 ;

崔海龙 ;

沈贵元 ;

胡美玲 .

中国专利 :CN113466675B ,2021-10-01

[4]

一种测试向量的生成方法 [P].

李磊 ;

周婉婷 .

中国专利 :CN117421732A ,2024-01-19

[5]

一种测试向量生成方法、装置及存储介质 [P].

钱静洁 .

中国专利 :CN114398848B ,2024-06-18

[6]

存储测试向量生成方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙位 ;

杨书才 ;

谢斌 .

中国专利 :CN121116287A ,2025-12-12

[7]

测试向量生成方法、装置、测试方法、系统及存储介质 [P].

李路遥 ;

杨旭 ;

吕真 ;

李彤 .

中国专利 :CN114185813B ,2022-03-15

[8]

一种测试向量生成方法及装置 [P].

赵鑫鑫 ;

姜凯 ;

李朋 ;

尹超 .

中国专利 :CN108319534B ,2018-07-24

[9]

基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质 [P].

刘超 ;

孙阳 ;

余景亮 .

中国专利 :CN110632499A ,2019-12-31

[10]

一种模板驱动的测试向量生成方法 [P].

黄乐天 ;

庄沧隆 ;

张云睿 ;

李芳 .

中国专利 :CN120144377A ,2025-06-13

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