一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211428920.4

申请日：

2022-11-15

公开(公告)号：

CN115762613B

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

刘刚陈泳洁范坤杨晓沈世科黄凯冬

申请人：

成都天奥技术发展有限公司

申请人地址：

610097 四川省成都市高新西区新业路88号天奥科技产业园

IPC主分类号：

G11C29/00

IPC分类号：

G11C29/10

代理机构：

成都欣圣知识产权代理有限公司 51292

代理人：

陈家强

法律状态：

授权

国省代码：

四川省攀枝花市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种存储器测试向量生成方法 [P].

孙磊 .

中国专利 :CN119068965A ,2024-12-03

[2]

存储器仿真测试向量生成方法、装置、设备和介质 [P].

丁瀚达 .

中国专利 :CN121011240A ,2025-11-25

[3]

测试向量生成方法、装置、测试方法、系统及存储介质 [P].

李路遥 ;

杨旭 ;

吕真 ;

李彤 .

中国专利 :CN114185813B ,2022-03-15

[4]

一种测试向量生成方法 [P].

刘鹏 ;

张晓峰 ;

赵月明 ;

季晓燕 ;

孙宇凯 ;

岳红维 ;

王君从 ;

田爱国 ;

戴强 ;

崔海龙 ;

沈贵元 ;

胡美玲 .

中国专利 :CN113466675B ,2021-10-01

[5]

基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质 [P].

刘超 ;

孙阳 ;

余景亮 .

中国专利 :CN110632499A ,2019-12-31

[6]

一种测试向量生成方法、装置及存储介质 [P].

钱静洁 .

中国专利 :CN114398848B ,2024-06-18

[7]

一种测试向量生成方法及装置 [P].

赵鑫鑫 ;

姜凯 ;

李朋 ;

尹超 .

中国专利 :CN108319534B ,2018-07-24

[8]

存储测试向量生成方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙位 ;

杨书才 ;

谢斌 .

中国专利 :CN121116287A ,2025-12-12

[9]

一种测试向量的生成方法 [P].

李磊 ;

周婉婷 .

中国专利 :CN117421732A ,2024-01-19

[10]

芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质 [P].

朱康宁 ;

张文平 ;

曹顺 .

中国专利 :CN113849419B ,2021-12-28

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