一种半导体新材料生产废水检测装置及其检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410944579.0
申请日
2024-07-15
公开(公告)号
CN118962044A
公开(公告)日
2024-11-15
发明(设计)人
袁超 周德军 刘水发 刘鹏 周强
申请人
浙江精瓷半导体有限责任公司
申请人地址
314499 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区杭平路12号1号楼1楼、2楼(自主申报)
IPC主分类号
G01N33/18
IPC分类号
G01N1/28 G01N1/34 B01D36/04
代理机构
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253
代理人
汤磊
法律状态
公开
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[21]
一种半导体生产废水净化处理装置及其方法 [P]. 
张恒 ;
李一凡 ;
李云超 ;
陈振国 ;
梁家婷 ;
穆道军 ;
于伟 .
中国专利 :CN116854216B ,2024-08-13
[22]
半导体结构的检测方法及其检测装置 [P]. 
魏强民 ;
卢世峰 ;
夏志良 .
中国专利 :CN110690133B ,2020-01-14
[23]
半导体结构的检测方法及其检测装置 [P]. 
石泉 ;
吴宗芹 ;
李国梁 ;
张笑 ;
马向杰 ;
魏强民 .
中国专利 :CN114018760A ,2022-02-08
[24]
半导体结构的检测方法及其检测装置 [P]. 
魏强民 ;
卢世峰 ;
夏志良 ;
周阳 ;
张正飞 ;
骆中伟 ;
何佳 .
中国专利 :CN110751622B ,2020-02-04
[25]
一种半导体表面应力分布的检测装置及其检测方法 [P]. 
徐鹏飞 ;
王岩 .
中国专利 :CN115452217A ,2022-12-09
[26]
一种半导体检测装置及其方法 [P]. 
袁露露 .
中国专利 :CN117399311A ,2024-01-16
[27]
一种新材料无纺布印染色差检测装置及其检测方法 [P]. 
包伟良 .
中国专利 :CN120577241A ,2025-09-02
[28]
一种半导体生产废水用回收处理装置 [P]. 
李华香 .
中国专利 :CN216890387U ,2022-07-05
[29]
一种新材料数据线生产用拉伸检测装置 [P]. 
袁威 .
中国专利 :CN120890785A ,2025-11-04
[30]
一种半导体靶材检测用装置及其检测方法 [P]. 
唐智勇 ;
程波 .
中国专利 :CN119665774A ,2025-03-21