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热阻测试装置及热阻测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411184938.3
申请日
:
2024-08-27
公开(公告)号
:
CN119000786A
公开(公告)日
:
2024-11-22
发明(设计)人
:
王振
郑润民
许琳浩
彭茂兰
张良
申请人
:
中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院
申请人地址
:
510663 广东省广州市黄埔区科学大道223号
IPC主分类号
:
G01N25/20
IPC分类号
:
G01N25/18
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
黄旭东
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-10
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/20申请日:20240827
2024-11-22
公开
公开
共 50 条
[1]
瞬态热阻测试装置及瞬态热阻测试方法
[P].
蔺帅南
论文数:
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引用数:
0
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机构:
长电科技管理有限公司
长电科技管理有限公司
蔺帅南
;
唐彦波
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机构:
长电科技管理有限公司
长电科技管理有限公司
唐彦波
;
杨程
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机构:
长电科技管理有限公司
长电科技管理有限公司
杨程
;
吴伯平
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机构:
长电科技管理有限公司
长电科技管理有限公司
吴伯平
.
中国专利
:CN119716454A
,2025-03-28
[2]
热阻测试装置
[P].
钟有权
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钟有权
.
中国专利
:CN209821110U
,2019-12-20
[3]
热阻测试装置
[P].
刘琛
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刘琛
;
邢昱阳
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邢昱阳
;
李姣枫
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李姣枫
;
刘志勇
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刘志勇
.
中国专利
:CN213658625U
,2021-07-09
[4]
热阻测试装置
[P].
邢鹏飞
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邢鹏飞
;
王东海
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王东海
;
孙衍翀
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孙衍翀
;
赵运坤
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赵运坤
;
周鹏
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周鹏
.
中国专利
:CN211741483U
,2020-10-23
[5]
热阻测试方法和热阻测试电路
[P].
王宏跃
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
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机构:
贺致远
;
陈媛
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
陈义强
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN117706317A
,2024-03-15
[6]
热阻测试方法和热阻测试电路
[P].
王宏跃
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
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机构:
贺致远
;
陈媛
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
陈义强
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN117706317B
,2024-05-28
[7]
一种接触热阻测试方法及热阻测试装置
[P].
吴健
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机构:
苏州远方测试技术有限公司
苏州远方测试技术有限公司
吴健
;
梁汉
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机构:
苏州远方测试技术有限公司
苏州远方测试技术有限公司
梁汉
;
郑勇
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机构:
苏州远方测试技术有限公司
苏州远方测试技术有限公司
郑勇
.
中国专利
:CN120490211A
,2025-08-15
[8]
接触热阻测试装置及测试方法
[P].
李庆双
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机构:
北京车和家汽车科技有限公司
北京车和家汽车科技有限公司
李庆双
.
中国专利
:CN118050397A
,2024-05-17
[9]
功率半导体器件热阻测试装置
[P].
温景超
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温景超
;
王立新
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王立新
;
陆江
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陆江
.
中国专利
:CN203414568U
,2014-01-29
[10]
热阻测试夹具
[P].
刘东月
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刘东月
;
张中豪
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张中豪
;
赵敏
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赵敏
;
刘芳
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刘芳
;
黄杰
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黄杰
.
中国专利
:CN112649466A
,2021-04-13
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