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一种测试装置及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411022533.X
申请日
:
2024-07-29
公开(公告)号
:
CN118962392A
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
郭宪超
申请人
:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
申请人地址
:
300480 天津市滨海新区中新天津生态城川博道1201号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G05B19/042
代理机构
:
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017
代理人
:
韩登营
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
天津市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-03
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240729
2024-11-15
公开
公开
共 50 条
[1]
一种测试装置及测试系统
[P].
叶轲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶轲
;
房海云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
房海云
;
孙亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙亮
;
李凤梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李凤梅
;
邢跃飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邢跃飞
.
中国专利
:CN108072855B
,2018-05-25
[2]
一种测试装置、测试系统及测试方法
[P].
李智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉天马微电子有限公司
武汉天马微电子有限公司
李智
;
李盼盼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉天马微电子有限公司
武汉天马微电子有限公司
李盼盼
;
刘畅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉天马微电子有限公司
武汉天马微电子有限公司
刘畅
.
中国专利
:CN120522483A
,2025-08-22
[3]
测试装置及测试系统
[P].
徐军军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
徐军军
;
李伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李伟
;
朱伟欣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
朱伟欣
;
杨妙林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
杨妙林
.
中国专利
:CN119010906A
,2024-11-22
[4]
测试装置及测试系统
[P].
漆一宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
漆一宏
.
中国专利
:CN218497040U
,2023-02-17
[5]
测试装置及测试方法
[P].
邓凌星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市广和通无线股份有限公司
深圳市广和通无线股份有限公司
邓凌星
;
张宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市广和通无线股份有限公司
深圳市广和通无线股份有限公司
张宇
;
谢镇和
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市广和通无线股份有限公司
深圳市广和通无线股份有限公司
谢镇和
.
中国专利
:CN120142702A
,2025-06-13
[6]
测试装置及测试方法
[P].
文松贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
文松贤
;
蔡荣茂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蔡荣茂
;
廖学士
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
廖学士
;
庄益壮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庄益壮
;
邓明锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓明锋
.
中国专利
:CN102819126B
,2012-12-12
[7]
测试装置及测试方法
[P].
方琦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞华贝电子科技有限公司
东莞华贝电子科技有限公司
方琦
.
中国专利
:CN118625029A
,2024-09-10
[8]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
庞冬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
庞冬
;
杨永琦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
杨永琦
;
张铁利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
张铁利
;
赵东明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
赵东明
.
中国专利
:CN118130954A
,2024-06-04
[9]
一种测试装置、系统及测试方法
[P].
钱芳斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中山市江波龙电子有限公司
中山市江波龙电子有限公司
钱芳斌
;
邓恩华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中山市江波龙电子有限公司
中山市江波龙电子有限公司
邓恩华
.
中国专利
:CN108563542B
,2024-11-22
[10]
测试模块、测试装置及测试方法
[P].
秋田德则
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
秋田德则
.
中国专利
:CN102057288A
,2011-05-11
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