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一种基于光度立体法的柔性OLED面板表面缺陷检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410976393.3
申请日
:
2024-07-20
公开(公告)号
:
CN118913632A
公开(公告)日
:
2024-11-08
发明(设计)人
:
林斌
邵琪琦
申请人
:
浙江大学
申请人地址
:
310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
IPC主分类号
:
G01M11/02
IPC分类号
:
G06T7/00
G06V10/764
G03B15/03
代理机构
:
杭州中成专利事务所有限公司 33212
代理人
:
李亦慈;唐银益
法律状态
:
公开
国省代码
:
浙江省 杭州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-08
公开
公开
2024-11-26
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20240720
共 50 条
[1]
一种光度立体法表面缺陷检测方法、系统及设备
[P].
施再峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
施再峰
;
张记霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
张记霞
;
郑军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
郑军
.
中国专利
:CN119880930A
,2025-04-25
[2]
一种基于光度立体法的在线表面缺陷检测方法
[P].
张效栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张效栋
;
刘皓玥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘皓玥
;
闫宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
闫宁
;
吴曦旸
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴曦旸
.
中国专利
:CN112630230A
,2021-04-09
[3]
一种基于光度立体法的智能卡凸字表面缺陷检测方法
[P].
齐鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
沈阳派尔泰科科技有限公司
沈阳派尔泰科科技有限公司
齐鹏
;
韩玉明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
沈阳派尔泰科科技有限公司
沈阳派尔泰科科技有限公司
韩玉明
;
赵珈兿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
沈阳派尔泰科科技有限公司
沈阳派尔泰科科技有限公司
赵珈兿
.
中国专利
:CN119574577A
,2025-03-07
[4]
一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置及检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
林斌
;
管安琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学
浙江大学
管安琪
.
中国专利
:CN118913631A
,2024-11-08
[5]
一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法
[P].
黄心龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄心龙
.
中国专利
:CN115452838A
,2022-12-09
[6]
一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法
[P].
黄心龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东奥普特科技股份有限公司
广东奥普特科技股份有限公司
黄心龙
.
中国专利
:CN115452838B
,2025-10-14
[7]
基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法
[P].
刘琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都考拉悠然科技有限公司
成都考拉悠然科技有限公司
刘琪
;
贾可
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都考拉悠然科技有限公司
成都考拉悠然科技有限公司
贾可
.
中国专利
:CN118067741A
,2024-05-24
[8]
基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法
[P].
刘琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都考拉悠然科技有限公司
成都考拉悠然科技有限公司
刘琪
;
贾可
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都考拉悠然科技有限公司
成都考拉悠然科技有限公司
贾可
.
中国专利
:CN118067741B
,2024-06-25
[9]
光源单元、系统及基于光度立体的表面缺陷检测方法
[P].
董兆国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
甄觉科技(上海)有限公司
甄觉科技(上海)有限公司
董兆国
.
中国专利
:CN118980686B
,2025-02-25
[10]
光源单元、系统及基于光度立体的表面缺陷检测方法
[P].
董兆国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
甄觉科技(上海)有限公司
甄觉科技(上海)有限公司
董兆国
.
中国专利
:CN118980686A
,2024-11-19
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