一种基于光度立体法的柔性OLED面板表面缺陷检测装置及检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410976393.3
申请日
2024-07-20
公开(公告)号
CN118913632A
公开(公告)日
2024-11-08
发明(设计)人
林斌 邵琪琦
申请人
浙江大学
申请人地址
310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
IPC主分类号
G01M11/02
IPC分类号
G06T7/00 G06V10/764 G03B15/03
代理机构
杭州中成专利事务所有限公司 33212
代理人
李亦慈;唐银益
法律状态
公开
国省代码
浙江省 杭州市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种光度立体法表面缺陷检测方法、系统及设备 [P]. 
施再峰 ;
张记霞 ;
郑军 .
中国专利 :CN119880930A ,2025-04-25
[2]
一种基于光度立体法的在线表面缺陷检测方法 [P]. 
张效栋 ;
刘皓玥 ;
闫宁 ;
吴曦旸 .
中国专利 :CN112630230A ,2021-04-09
[3]
一种基于光度立体法的智能卡凸字表面缺陷检测方法 [P]. 
齐鹏 ;
韩玉明 ;
赵珈兿 .
中国专利 :CN119574577A ,2025-03-07
[4]
一种基于偏振光的柔性OLED面板缺陷检测装置及检测方法 [P]. 
林斌 ;
管安琪 .
中国专利 :CN118913631A ,2024-11-08
[5]
一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法 [P]. 
黄心龙 .
中国专利 :CN115452838A ,2022-12-09
[6]
一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法 [P]. 
黄心龙 .
中国专利 :CN115452838B ,2025-10-14
[7]
基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法 [P]. 
刘琪 ;
贾可 .
中国专利 :CN118067741A ,2024-05-24
[8]
基于光度立体法的Mini-LED胶面缺陷检测方法 [P]. 
刘琪 ;
贾可 .
中国专利 :CN118067741B ,2024-06-25
[9]
光源单元、系统及基于光度立体的表面缺陷检测方法 [P]. 
董兆国 .
中国专利 :CN118980686B ,2025-02-25
[10]
光源单元、系统及基于光度立体的表面缺陷检测方法 [P]. 
董兆国 .
中国专利 :CN118980686A ,2024-11-19