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光源单元、系统及基于光度立体的表面缺陷检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411078724.8
申请日：
2024-08-07
公开(公告)号：
CN118980686A
公开(公告)日：
2024-11-19
发明(设计)人：
董兆国
申请人：
甄觉科技（上海）有限公司
申请人地址：
200241 上海市闵行区东川路555号乙楼1层1001室
IPC主分类号：
G01N21/88
IPC分类号：
G01N21/95
F21V21/14
F21Y107/40
F21Y107/60
F21Y115/10
F21Y105/16
代理机构：
上海段和段律师事务所 31334
代理人：
李源
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-02-25 | 授权 | 授权 |
| 2024-12-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20240807 |
| 2024-11-19 | 公开 | 公开 |