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情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム、ならびに、測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210055585
申请日
:
2021-03-29
公开(公告)号
:
JP7526703B2
公开(公告)日
:
2024-08-01
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/24
IPC分类号
:
G06F30/10
G06F30/13
G06T15/08
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置、情報処理装置、測定プログラム、情報処理プログラム、測定方法および情報処理方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6241218B2
,2017-12-06
[2]
情報処理装置、情報処理装置の性能測定方法および情報処理装置の性能測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6248608B2
,2017-12-20
[3]
測定方法、情報処理装置およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7335860B2
,2023-08-30
[4]
情報処理装置、情報処理方法、プログラム、測定装置、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6270264B2
,2018-01-31
[5]
画像測定装置、画像測定方法、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6475552B2
,2019-02-27
[6]
情報処理装置、測定方法及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6379646B2
,2018-08-29
[7]
測定装置、測定方法、プログラム、および情報処理装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5772242B2
,2015-09-02
[8]
ウイッグ、情報処理装置、頭部測定方法、情報処理方法、プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6678258B1
,2020-04-08
[9]
測定装置、測定方法、情報処理装置及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014157042A1
,2017-02-16
[10]
測定装置、測定方法、情報処理装置及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6416750B2
,2018-10-31
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