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一种芯片测试分选机
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202420400301.2
申请日：
2024-03-02
公开(公告)号：
CN221908455U
公开(公告)日：
2024-10-29
发明(设计)人：
张来建
申请人：
深圳市佳芯智造科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区石岩街道官田社区塘坑路57-1号一层
IPC主分类号：
B07C5/02
IPC分类号：
H01L21/67
H01L21/677
B07C5/38
代理机构：
深圳中恒科专利代理有限公司 44808
代理人：
孙静静
法律状态：
授权
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-10-29 | 授权 | 授权 |