元器件的属性信息校验方法、装置、电子设备与存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411258395.5

申请日：

2024-09-09

公开(公告)号：

CN119106650A

公开(公告)日：

2024-12-10

发明(设计)人：

柳君霞杜辉斌黄伟

申请人：

上海乐丞信息技术有限公司

申请人地址：

200070 上海市静安区共和新路912号7楼701A-J室

IPC主分类号：

G06F30/39

IPC分类号：

G06F30/398 G06F111/20

代理机构：

上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343

代理人：

李晴

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	公开	公开
2024-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/39申请日:20240909

共 50 条

[1]

属性校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

于凯敏 ;

邵瑜 ;

于海涛 ;

范磊 ;

位永康 .

中国专利 :CN113312675A ,2021-08-27

[2]

属性校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

于凯敏 ;

邵瑜 ;

于海涛 ;

范磊 ;

位永康 .

中国专利 :CN113312675B ,2025-05-30

[3]

电子元器件的参数校验方法、装置、设备及存储介质 [P].

林玉虹 ;

施海昕 ;

秦国君 ;

刘云锋 .

中国专利 :CN110502384B ,2019-11-26

[4]

资产信息的校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩燕燕 ;

刘宾 .

中国专利 :CN119201592A ,2024-12-27

[5]

信息校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林晓燕 .

中国专利 :CN112651825A ,2021-04-13

[6]

信息校验方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

魏博言 ;

徐琳玲 ;

刘微 ;

蒋如星 .

中国专利 :CN117635328A ,2024-03-01

[7]

信息校验方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈辉宗 .

中国专利 :CN113283557A ,2021-08-20

[8]

信息校验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈文军 .

中国专利 :CN111651585A ,2020-09-11

[9]

权限校验方法、权限校验装置、存储介质与电子设备 [P].

姚广东 .

中国专利 :CN111222146B ,2020-06-02

[10]

模块电路原理图的校验方法、装置、电子设备与存储介质 [P].

柳君霞 ;

杜辉斌 ;

黄伟 .

中国专利 :CN119089859A ,2024-12-06

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