一种高压碳化硅功率MOSFET终端结构及其制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411442671.3
申请日
2024-10-16
公开(公告)号
CN118969821A
公开(公告)日
2024-11-15
发明(设计)人
许一力
申请人
杭州谱析光晶半导体科技有限公司
申请人地址
310000 浙江省杭州市萧山区瓜沥镇航钱路168号3幢4层405(自主分割)
IPC主分类号
H01L29/06
IPC分类号
H01L29/78 H01L21/336
代理机构
深圳市励知致远知识产权代理有限公司 44795
代理人
刘阳玲
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
一种高压碳化硅功率MOSFET终端结构及其制备方法 [P]. 
许一力 .
中国专利 :CN118969821B ,2025-01-21
[2]
一种高压碳化硅功率器件终端结构及其制备方法 [P]. 
许一力 .
中国专利 :CN119069533A ,2024-12-03
[3]
一种碳化硅MOSFET功率器件终端结构 [P]. 
崔潆心 ;
陆子成 ;
韩吉胜 ;
徐现刚 .
中国专利 :CN118943165A ,2024-11-12
[4]
一种碳化硅MOSFET功率器件终端结构 [P]. 
崔潆心 ;
陆子成 ;
韩吉胜 ;
徐现刚 .
中国专利 :CN118943165B ,2025-07-08
[5]
一种背面钉状电极的碳化硅MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119894052B ,2025-07-04
[6]
一种背面钉状电极的碳化硅MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119894052A ,2025-04-25
[7]
优化短路电流耐受能力的碳化硅MOSFET结构 [P]. 
任敏 ;
叶昶宇 ;
雷清滢 ;
任心宇 ;
吴逸凝 ;
向月清 ;
李泽宏 .
中国专利 :CN115332354A ,2022-11-11
[8]
一种碳化硅功率器件结终端结构及其制备方法 [P]. 
李翔 ;
吴文杰 ;
何浩祥 ;
刘毅 .
中国专利 :CN114300530A ,2022-04-08
[9]
碳化硅功率器件终端结构及其制造方法 [P]. 
邓小川 ;
柏思宇 ;
宋凌云 ;
陈茜茜 ;
张波 .
中国专利 :CN105977310A ,2016-09-28
[10]
一种分段式碳化硅MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
杨琦 .
中国专利 :CN120730786B ,2025-12-23