半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411238818.7
申请日
2024-09-04
公开(公告)号
CN119095380A
公开(公告)日
2024-12-06
发明(设计)人
张金福 任堃 綦殿禹 高大为 吴永玉
申请人
浙江创芯集成电路有限公司
申请人地址
311200 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区建设三路733号
IPC主分类号
H10B43/30
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴敏
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
韩亮 ;
王海英 .
中国专利 :CN111755449A ,2020-10-09
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
黄兴凯 .
中国专利 :CN118632531A ,2024-09-10
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李贝贝 ;
陶然 ;
詹侃 ;
汪海 .
中国专利 :CN118969620A ,2024-11-15
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
邓浩 ;
张彬 .
中国专利 :CN103165514A ,2013-06-19
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵振阳 .
中国专利 :CN118198108A ,2024-06-14
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
陈勇 .
中国专利 :CN113764530A ,2021-12-07
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 .
中国专利 :CN104617093B ,2015-05-13
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
宋雷 .
中国专利 :CN105789038A ,2016-07-20
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
盛丽萍 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN119521711A ,2025-02-25
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张海洋 ;
刘盼盼 .
中国专利 :CN113053751A ,2021-06-29