探测基板、X射线成像系统及图像校正方法与装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310582809.9

申请日：

2023-05-22

公开(公告)号：

CN119023709A

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

车春城徐帅李鑫侯学成张冠赵镇乾陈超

申请人：

北京京东方光电科技有限公司京东方科技集团股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区西环中路8号

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G06T5/90 G06T7/90

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

陶丽;曲鹏

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	公开	公开
2024-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20230522

共 50 条

[1]

X射线成像系统的校正方法 [P].

倪成 .

中国专利 :CN104783824B ,2015-07-22

[2]

X射线成像系统的探测模块及X射线成像系统 [P].

赫伟 ;

刘鹏飞 .

中国专利 :CN206880685U ,2018-01-16

[3]

X射线设备校正方法、成像方法和成像系统 [P].

闫晶 ;

陆学飞 ;

冷官冀 ;

崔凯 .

中国专利 :CN112294349A ,2021-02-02

[4]

X射线成像系统的图像拼接方法、X射线成像方法及系统 [P].

周爱珍 ;

王莹莹 ;

王德军 ;

刘旻 .

美国专利 :CN120713547A ,2025-09-30

[5]

X射线成像系统及X射线图像跟踪方法 [P].

曹培炎 ;

刘雨润 .

中国专利 :CN110891490A ,2020-03-17

[6]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

曹培炎 ;

刘雨润 .

中国专利 :CN110022770A ,2019-07-16

[7]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

王文琳 ;

周莉 .

中国专利 :CN111110262A ,2020-05-08

[8]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

王文琳 ;

周莉 .

中国专利 :CN111110262B ,2024-01-19

[9]

X射线图像重建方法、装置、X射线成像系统及介质 [P].

崔凯 ;

张娜 ;

马艳歌 ;

牛杰 .

中国专利 :CN111053566A ,2020-04-24

[10]

X射线成像系统与方法 [P].

P·A·赫尔姆 ;

S·石 .

中国专利 :CN103635830B ,2014-03-12

← 1 2 3 4 5 →