一种射频芯片测试用夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420457911.6

申请日：

2024-03-11

公开(公告)号：

CN221976953U

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

郑新年柯庆福黄继伟孙凯

申请人：

上海三伍微电子有限公司

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路570号1幢1201室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

广州大象飞扬知识产权代理有限公司 44745

代理人：

张鑫喆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	授权	授权

共 50 条

[1]

射频芯片测试夹具 [P].

王文娟 ;

沙长涛 ;

阚劲松 ;

王酣 ;

赵昭 ;

邢荣欣 .

中国专利 :CN206684193U ,2017-11-28

[2]

一种射频芯片测试夹具 [P].

陈华东 .

中国专利 :CN222269962U ,2024-12-31

[3]

一种射频芯片用测试夹具 [P].

陈莹 .

中国专利 :CN213091714U ,2021-04-30

[4]

一种BGA封装射频芯片测试夹具 [P].

廖强 ;

刘强 ;

何川 .

中国专利 :CN216792279U ,2022-06-21

[5]

一种射频模块测试用新型测试夹具 [P].

马战辉 ;

徐子涵 ;

陈云选 ;

杨昀潮 ;

李琳 .

中国专利 :CN217238146U ,2022-08-19

[6]

一种射频模块测试用新型测试夹具 [P].

朱红辉 ;

王耀召 .

中国专利 :CN207866861U ,2018-09-14

[7]

一种射频模块测试用新型测试夹具 [P].

沈伦钧 .

中国专利 :CN212367281U ,2021-01-15

[8]

QFN封装射频芯片测试夹具 [P].

杨雪 ;

廖强 ;

张强 .

中国专利 :CN217385580U ,2022-09-06

[9]

一种芯片测试用夹具 [P].

曾丹萍 ;

秦超强 .

中国专利 :CN216979133U ,2022-07-15

[10]

一种芯片测试用夹具 [P].

朱延政 .

中国专利 :CN212159870U ,2020-12-15

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