基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410828428.9

申请日：

2024-06-25

公开(公告)号：

CN118941704A

公开(公告)日：

2024-11-12

发明(设计)人：

范俊峰付一宸景奉水马云开周超谭民

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村东路95号

IPC主分类号：

G06T17/00

IPC分类号：

G01B11/25 G06T7/70 G06T7/11 G06T5/30 G06T5/70 G06T5/60 G06N3/04 G06N3/08

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

梁建国

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	公开	公开
2024-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 17/00申请日:20240625

共 50 条

[1]

基于改进多频条纹结构光的三维测量方法 [P].

朱勇建 ;

黄振 ;

马俊飞 ;

罗坚 ;

郭磊 ;

潘敏玲 .

中国专利 :CN109489585B ,2019-03-19

[2]

光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法 [P].

邹涛 ;

谈季 ;

陈焕坤 ;

罗索凡 ;

何昭水 .

中国专利 :CN119687828A ,2025-03-25

[3]

光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法 [P].

邹涛 ;

谈季 ;

陈焕坤 ;

罗索凡 ;

何昭水 .

中国专利 :CN119687828B ,2025-12-19

[4]

一种基于逐像素调控的自适应条纹投影三维测量方法 [P].

冯维 ;

徐仕楠 ;

王恒辉 ;

周世奇 ;

程雄昊 ;

吴庆华 ;

熊芝 ;

翟中生 .

中国专利 :CN113310432A ,2021-08-27

[5]

结构光三维测量方法及系统 [P].

胡学磊 ;

李鹏杰 ;

郑众喜 .

中国专利 :CN107421467B ,2017-12-01

[6]

基于深度学习的结构光三维测量方法、装置及存储介质 [P].

范俊峰 ;

付一宸 ;

景奉水 ;

马云开 ;

周超 ;

谭民 .

中国专利 :CN118941703A ,2024-11-12

[7]

一种复合正弦梯形条纹结构光三维测量方法 [P].

高健 ;

莫健华 ;

张揽宇 ;

郑卓鋆 ;

陈新 ;

陈云 ;

贺云波 .

中国专利 :CN111060028A ,2020-04-24

[8]

基于绿条纹中心的颜色编码结构光三维测量方法 [P].

于晓洋 ;

关丛荣 .

中国专利 :CN101290217A ,2008-10-22

[9]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[10]

基于结构光的三维测量方法及大景深三维深度相机系统 [P].

张雅男 ;

夏长锋 .

中国专利 :CN114413787A ,2022-04-29

← 1 2 3 4 5 →